能量分散型x射線熒光分析儀 x射線熒光光譜儀 熒光光譜儀
液氮制冷型探頭、世界Z高探頭等分辨率、同等時間內Z高檢出限度、測試時間短、各類優異軟件、能量過濾裝置等。
能量分散型x射線熒光分析儀 x射線熒光光譜儀 熒光光譜儀
型號: JC15-JSX-3400R
新型號x射線熒光光譜儀，是日本電子株式會社2006年6月的升級版能量色散型光譜儀，是一直以來受用戶好評的基礎上，進一步升級產品。該設備具有出眾性能指標，不僅能很好對應rohs指令、elv指令和其它環境指令相關元系分析，指令以外的一般元素也能在高感度下測試分析。
主要特點：液氮制冷型探頭、世界Z高探頭等分辨率、同等時間內Z高檢出限度、測試時間短、各類優異軟件、能量過濾裝置等。該產品世界各地，在同類型產品中性能，其穩定優異性能深受廣大用戶的好評與青睞。
能量分散型x射線熒光分析儀 x射線熒光光譜儀 熒光光譜儀 特點
* 短距離傳導光路
* Z高分辨率檢測探頭
* 低檢測下限
* 短測試時間
* 射線過濾機構
* 補正檢量線法
* 簡單的操作界面
* 膜厚測定軟件
* 焊錫鍍層成分分析軟件
能量分散型x射線熒光分析儀 x射線熒光光譜儀 熒光光譜儀 規格:
分析范圍: na to u（cd,pb,cr,hg,br）
x射線管: rh-tube,50kv-1.0ma
樣品室: 300mmφ-160mmh
樣品托: 1, 16（選購）
準直器: ф 1mm；ф3mm； ф7mm
過濾器: 4種
樣品環境: 大氣，真空（選購）
軟 件: 環境分析軟件包
日本電子制造的JSX-3400R是靈敏度和操作性大幅提高的能量分散型x射線熒光分析儀，不僅可用于一般性分析，還可用于rohs與elv的審查與驗收分析
此款分析儀應對EU（歐盟）電器及電子設備廢料回收（WEEE）和特定有害物質的使用限制（RoHS）指令。
采用新式光學系統、高能X射線發生源、高分解能探測器，可以檢測塑料、包裝材料、顏料中鎘（Cd）、鉛（Pb）、水銀（Hg）、鉻（Cr）等特定有害物質和砷（As）等有毒物質，檢測精度達到ppm數量級
