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高頻雷達物位計原理
高頻雷達物位計裝有天線裝置，是依據(jù)時域反射原理（TDR）為基礎的雷達物位計。不論高頻雷達物位計還是導波雷達物位計，都靠天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，遇到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比。
由于電磁波的傳播速度*，發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。智能高頻雷達物位計采用一種特殊的相關解決技術，可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。
二、高頻雷達物位計特點
- 波束角小，發(fā)射頻率大，能量集中，具有更強抗干擾能力，大大提高了測量精度和可靠性；
- 天線尺寸小，便于安裝和加裝防塵罩等天線防護裝置；
- 測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得良好的效果；
- 波長更短，對小顆粒物質的料位測量更適合。
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