摘要 數(shù)字式四探針測試計 四探針測試計 半導(dǎo)體四探針檢測儀 型號:DL10-1934B

摘要用途：用于各種需要測溫的場合等特點：筆型結(jié)構(gòu)，全不銹鋼探針，準確度高，可快速測溫功能多--攝氏（℃）華氏（°F）自由轉(zhuǎn)換，制冷、制熱、家庭廚房都可用LCD顯示，測量范圍大增，穩(wěn)定性高按鍵功能1、ON/OFF:開關(guān)功能2、HOLD鍵：在顯示溫度狀態(tài)下，按此鍵可將LCD的...

摘要 簡單介紹 日本制西鐵城CITIZEN電子比測探針，IPD-P510、IPD-P510-03N、IPD-P510N、IPD-P510N-03N。

摘要 簡單介紹 日本西鐵城電子比測探針，型號：IPD-B505F、IPD-B505F-03N。測量范圍：5mm,*小讀數(shù)：0.0005mm,精度：0.001mm.

摘要 簡單介紹 西鐵城電子比測探針 電子比測探針 品牌:西鐵城　CITIZEN 型號:IPD-P510/P510D/B505F 產(chǎn)地:日本

摘要 簡單介紹 日本制西城鐵CITIZEN電子比測探針，型號：DTH-P20、DTH-P40、DTH-P16AL、DTH-P70W。

摘要 高靈敏度·高精度·高分辨率「簡單?易懂的操作」從軟件到硬件凝結(jié)了，鑄就了新一代EPMA

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)將島津EPMA分析性能發(fā)揮到從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)

摘要 （電子探針）EPMA-8050G

摘要 （電子探針）EPMA-1720 Series

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)、將島津EPMA分析性能發(fā)揮到從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)

摘要 電子探針EPMA-1720 Series

摘要 產(chǎn)品信息高靈敏度高精度高分辨率「簡單易懂的操作」從軟件到硬件凝結(jié)了，鑄就了新一代EPMA

摘要該電子探針臺與MFP-3D原子力顯微鏡的掃描儀相連接。該裝置可以實現(xiàn)在原子力顯微鏡掃描樣品的同時對樣品進行電學(xué)探測、電偏壓和其他測量。另外還可以配置多種電氣連接，并與各種成像模式相結(jié)合。 詢價 增加到詢價列表 在詢價列...

摘要JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個領(lǐng)域，并獲得了高的贊譽。新研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大...

摘要日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能*多種需求...

摘要 EPMA-1720島津電子探針電子探針（EPMA）是用極細的電子束對樣品表面進行照射產(chǎn)生特征X射線，對特征X射線進行分光和強度測定，得到微小區(qū)域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置

摘要 產(chǎn)品詳情島津場發(fā)射電子探針EPMA-8050G開創(chuàng)新紀元的空間分辨率與超高靈敏度的結(jié)合TheGrandEPMA誕生搭載場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)將島津EPMA分析性能發(fā)揮到

摘要 電子探針顯微分析儀EPMA-8050G電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的，該儀器實質(zhì)上就是這兩種儀器的科學(xué)組合

摘要 電子探針EPMA-1720/1720(H)電子探針是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進行微區(qū)成分分析的儀器，[1]可以用來分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成

摘要 島津鎢燈絲電子探針顯微鏡

摘要 島津場發(fā)射電子探針顯微鏡

摘要 測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務(wù)

摘要 測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務(wù)

摘要 測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務(wù)

摘要 電子探針X射線顯微分析儀儀器名稱：電子探針X射線顯微分析儀型號：EPMA-1600生產(chǎn)廠家：日本島津公司儀器簡介：日本島津公司的EPMA－1600型電子探針，由四道譜儀、八塊分光晶體組成

摘要

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摘要日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式...

摘要 PHI710掃描俄歇納米探針1 . 使用CMA同軸分析器，同時實現(xiàn)高靈敏度和高傳輸率。即使在低電流高空間分辨率情 況下，都可輕松的進行分析

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態(tài)AFM分別成像, 檢測面鍍金